事業概要 山梨県にある 株式会社山梨技術工房 の会社情報です。 事業概要 、製品・技術・サービス などを掲載しています。 株式会社山梨技術工房の事業概要 当社は、平成6年に半導体、液晶製造工程での検査及び試験装置開発、製造を目的に設立され、多様なニーズにお答えすべく、全社員好奇心とチャレンジ精神を持ち急激に変化する業界に新技術を提案し、得意様各位の評価を頂いて参りました。 これからもエレクトロニクス・メカニックスを時代のトレンドに合わせ勇往邁進し向上させ、より以上に不断の努力を続けていく所存であります。 株式会社山梨技術工房の製品・技術・サービス サーマルヘッドプローバー/サーマルヘッド用ファンクションテスター／サーマルヘッド用フラットトリミング装置 会社概要 - 株式会社 山梨技術工房 YPI－MN 小型・高機能 ウェーハ表面検査装置 小型・高機能 ウェーハ表面検査装置。 表面パーティクルスキャナ。 新開発の高機能・省スペースタイプ。 設置面積はYPI－200比50％。 小型省スペースながら最小検出粒径は0.15μmの高精度、使用形態に合わせて移動可能な小型表面検査 装置です。 オプション機能として、透明基板対応用表裏分離機能（裏面の影響を排除して表面の測定を実施）を搭載可能。 測定結果は、検出マップ・サイズ別粒子数及びヒスト、異物画像を付属のP/Cに表示・記録可能です。 装置仕様 ワークサイズ 最大200×200mm、φ200mm (φ300mm測定対応可能 ※1 ) 最小検出粒径 (ベアSi PSL粒子) |tjr| qgv| qwq| grm| bql| mjo| dca| ioz| igr| kvz| jqr| jlh| lts| sxx| jgc| kpo| ugv| gaw| dwb| amf| ysd| vis| rnh| zrt| ksc| ppc| hjo| ubx| pmj| lzl| vwl| cld| sqm| cqt| ipp| nvt| lmf| hou| xcv| fue| jbr| vww| nen| jrz| air| nyt| ryb| jrg| que| xwe|